SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-24 08:35:58 浏览:8042
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基本信息
| 标准名称： | 超辐射发光二极管组件测试方法 |
| 英文名称： | Measuring methods for super luminescent diode module |
| 中标分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 2000-10-20 |
| 实施日期： | 2000-10-20 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部第44研究所 |
| 起草人： | 魏进、易向阳、常利发、李春芳 |
| 出版社： | 工业电子出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-19 |
| 页数： | 28页 |
适用范围
本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。
本标准适用于超辐射发光二极管组件（以下简称“组件”）光电参数测试。
前言
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目录
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引用标准
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
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